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推薦產(chǎn)品

日本電子IT210 掃描電鏡

JSM-IT210 掃描電鏡是日本電子制造的最小巧的落地型掃描電子顯微鏡。5軸馬達驅(qū)動使得操作更安心和快速；而且因為裝有“Simple SEM”，只需選好微區(qū)就能自動觀察和分析。JSM-IT210 掃...
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掃描電鏡價格

JSM-IT210 InTouchScope™ 掃描電鏡價格不僅是開展科研工作所不可少的工具，對于需要品控的制造工廠也是*。在這些場景中，用戶需要重復執(zhí)行相同的觀察操作，因此快速完成這些...
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JNM-ECZS 系列核磁共振譜儀

JNM-ECZS 系列核磁共振譜儀不僅具有高性能，還進一步實現(xiàn)了譜儀的小型化。高級軟件和自動化技術(shù)，使常規(guī)測試全部實現(xiàn)了自動化。超高靈敏度自動調(diào)諧探頭包括了SuperCOOL探頭（選配件）等超低溫...
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JNM-ECZL 系列核磁共振譜儀

JNM-ECZL 系列核磁共振譜儀是配備先進數(shù)字和高頻技術(shù)的核磁共振波譜儀。高度集成的STS（智能收發(fā)系統(tǒng)）采用高速、高精度數(shù)字高頻控制電路，實現(xiàn)了譜儀的進一步微型化和高可靠性。它能夠進行高磁場和固...
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液氮液氦回收系統(tǒng)

液氮液氦回收系統(tǒng)是一種能夠大幅抑制NMR超導磁體中液氦、液氮蒸發(fā)的裝置。這有助于減少NMR設備管理中制冷劑的相關(guān)問題，例如在定期的制冷劑再填充中調(diào)整測量日程，以及擔心制冷劑供應不穩(wěn)定等。
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JSX-1000S 能量色散型X射線熒光分析儀

JSX-1000S 能量色散型X射線熒光分析儀采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析（FP法?檢量線法）、RoHS元素篩選功能等?！?利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進行更...
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雙束加工觀察系統(tǒng)

隨著先進材料構(gòu)造的微細化和制造過程的復雜化，形貌觀察、元素分析和晶體分析等的評估技術(shù)也對分辨率和精度有了更高的要求。為了滿足這些需求，JEOL推出新一代雙束加工觀察系統(tǒng)JIB-4700F。
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JIB-4000PLUS 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng)

JIB-4000PLUS 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng)配置了高性能的離子鏡筒(單束FIB裝置)。被加速的鎵離子束經(jīng)聚焦照射樣品后，能對樣品表面進行SIM觀察、研磨、及碳和鎢等沉積。還可以為TEM制備薄膜...
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JXA-iHP200F 場發(fā)射電子探針顯微分析儀

JXA-iHP200F 場發(fā)射電子探針顯微分析儀在保持高局部微量元素分析性能的同時，追求每個人都能簡單快速地使用好儀器。該儀器能更加有效地進行觀察分析和操作，是更先進的一體化集成FE-EPMA。
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CP截面樣品制備裝置

IB-19520CCP截面樣品制備裝置在加工過程中利用液氮冷卻，能減輕離子束對樣品造成的熱損傷。冷卻持續(xù)時間長、液氮消耗少的構(gòu)造設計。在裝有液氮的情況下，也能將樣品快速冷卻、恢復到室溫，并且可以拆卸。...
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IB-19530CP截面樣品制備裝置

IB-19530CP截面樣品制備裝置為了滿足市場多樣化的需求，IB-19530CP截面拋光儀采用多用途樣品臺，通過交換各種功能性樣品座實現(xiàn)了功能的多樣化。
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離子切片儀

EM-09100IS 離子切片儀用于TEM 、STEM 、 SEM 、 EPMA 和 AUGER樣品制備的創(chuàng)新方法離子切片儀制備薄膜樣品比傳統(tǒng)制備工具快速、簡單。低能量、低角度（0°到6&...
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產(chǎn)品展示

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產(chǎn)品分類

透射電子顯微鏡
掃描電子顯微鏡

場發(fā)射掃描電子顯微鏡鎢燈絲掃描電子顯微鏡
制樣設備
電子探針顯微分析儀
多束系統(tǒng)
X射線熒光分析儀
核磁共振譜儀

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0512-63022732

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日本電子ROHSX射線熒光分析儀金屬成分分析

日本電子ROHSX射線熒光分析儀金屬成分分析(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通過組合新開發(fā)的衍射光柵和高靈敏度Ｘ射線CCD相機，實現(xiàn)了高的能量分辨率。 ...
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熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡

JSM-IT710HR 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡清晰的可見性促進新發(fā)現(xiàn)！目前，除了納米級的分辨率和分析性能外，數(shù)據(jù)采集的處理能力也被認為是重要的。JSM-IT710HR是JEOL 以 “任何人都能輕...
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日本電子IT210 掃描電鏡

JSM-IT210 掃描電鏡是日本電子制造的最小巧的落地型掃描電子顯微鏡。5軸馬達驅(qū)動使得操作更安心和快速；而且因為裝有“Simple SEM”，只需選好微區(qū)就能自動觀察和分析。JSM-IT210 掃...
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ROHS金屬成分分析儀

ROHS金屬成分分析儀(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通過組合新開發(fā)的衍射光柵和高靈敏度Ｘ射線CCD相機，實現(xiàn)了高的能量分辨率。和EDS一樣可以并行檢...
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日本電子SEM

JSM-IT510 InTouchScope™ 日本電子SEM不僅是開展科研工作所不可少的工具，對于需要品控的制造工廠也是*。在這些場景中，用戶需要重復執(zhí)行相同的觀察操作，因此快速完成這...
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日本電子掃描電鏡

JSM-IT200 InTouchScope™ 日本電子掃描電鏡是一款更簡潔、更易于使用且性價比高的掃描電子顯微鏡。
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About us

賽非特科學儀器（蘇州）有限公司

關(guān)于賽非特賽非特公司主要是一家專門從事進口儀器設備銷售公司。主要服務于華東，華中，華南地區(qū)形成了一個覆蓋中國沿海地區(qū)，并延伸至內(nèi)地的銷售網(wǎng)絡。我們服務項目包含儀器銷售，維修，安裝，儀器校準，保養(yǎng)等，是一加集進口，銷售，安裝，服務一體的進口儀器銷售公司，公司秉承“技術(shù)至上，服務進取”的經(jīng)營理念，堅持“客戶第一”的原則為廣大客戶提供優(yōu)質(zhì)的服務。歡迎廣大客戶惠顧！賽非特公司主要合作品牌有：賽默飛世爾THERMOFISHER,安捷倫AGILENT,島津SHIMADZU,日本電子JEOL,牛津儀器Oxford,日本尼康NIKON等品牌產(chǎn)品。主要銷售產(chǎn)品為各式液相色譜，氣相色譜，光譜儀，質(zhì)譜儀，光學顯微鏡，掃描電鏡，X光檢查機，x光熒光分析儀等相關(guān)儀器。賽非特客戶群為電子行業(yè)，鋼鐵行業(yè)，礦產(chǎn)，生物，醫(yī)療，材料等各種領域。為客戶提供優(yōu)良的解決方案及優(yōu)秀的服務，用自身技術(shù)協(xié)助解決用戶的現(xiàn)實問題。歡迎廣大客戶來電指導，共同學習探討。

2014年
成立時間
2200萬
注冊資金
365天
用心服務

News Center

新聞中心

2025
3-12

精準到微克：ROHS金屬成分分析儀如何確保電子產(chǎn)品綠色無害
電子產(chǎn)品的普及率不斷攀升，成為現(xiàn)代生活中重要的一部分。然而，電子產(chǎn)品在生產(chǎn)過程中可能使用的某些有害物質(zhì)，如鉛（Pb）、汞（Hg）、鎘（Cd）、六價鉻（Cr6+）、多溴聯(lián)苯（PBBs）和多溴二苯醚（PBDEs）等，對環(huán)境和人類健康構(gòu)成了潛在威脅。為確保電子產(chǎn)品的綠色無害，ROHS（限制使用某些有害物質(zhì)）指令應運而生，而ROHS金屬成分分析儀則成為實現(xiàn)這一目標的關(guān)鍵工具。ROHS指令的核心要求ROHS指令，全稱《關(guān)于限制在電子電器設備中使用某些有害成分的指令》，是一項由歐盟立法并...
2024
11-18

低溫冷凍離子切片儀幫助科研人員揭示細胞的形態(tài)、結(jié)構(gòu)和功能
在現(xiàn)代科學研究的廣闊領域中，低溫冷凍離子切片儀作為一種高精度的科研設備，正扮演著舉足輕重的角色。它不僅能夠處理易受熱損傷的樣品，還能方便地制作出薄膜樣品和截面樣品，為科研人員提供了便利與精準。低溫冷凍離子切片儀的核心優(yōu)勢在于其出色的冷卻系統(tǒng)。通過液氮制冷，儀器能夠大大減輕離子照射時對樣品造成的熱損傷，同時冷卻保持時間長，有效地延長了樣品的穩(wěn)定狀態(tài)。這種特性使得對溫度敏感的生物組織、細胞等樣品在切片過程中得以保持其原始結(jié)構(gòu)，從而確保了切片數(shù)據(jù)的準確性和可靠性。在具體操作層面，低...
2024
10-23

ROHS金屬成分分析儀助力企業(yè)精準識別與管控有害物質(zhì)
在當今的全球化市場中，企業(yè)不僅要追求產(chǎn)品質(zhì)量與技術(shù)創(chuàng)新，還需嚴格遵守各項環(huán)保法規(guī)，以確保產(chǎn)品的安全性與環(huán)保性。ROHS金屬成分分析儀作為一種高效、精確的檢測工具。ROHS金屬成分分析儀依據(jù)歐盟ROHS指令設計，專門用于檢測電子產(chǎn)品中的六種有害物質(zhì)：鉛（Pb）、鎘（Cd）、汞（Hg）、六價鉻（Cr6+）、多溴聯(lián)苯（PBB）和多溴二苯醚（PBDE）。這些物質(zhì)對人體健康和環(huán)境具有潛在危害，因此ROHS指令對它們在電子產(chǎn)品中的含量進行了嚴格限制。ROHS分析儀通過先進的X射線熒光光譜...
2024
9-23

提升材料研究深度：截面拋光儀在失效分析與微觀結(jié)構(gòu)觀察中的關(guān)鍵作用
在材料科學研究的廣闊領域中，深入理解材料的微觀結(jié)構(gòu)和失效機制是提升材料性能、延長使用壽命的關(guān)鍵。截面拋光儀作為先進的材料制備工具，在失效分析與微觀結(jié)構(gòu)觀察中發(fā)揮著不可替代的作用，極大地提升了材料研究的深度和精度。精準制備，暴露內(nèi)部結(jié)構(gòu)截面拋光儀利用氬離子束等先進技術(shù)，對材料樣品進行高精度的切割和拋光，能夠在不破壞樣品原有結(jié)構(gòu)的前提下，暴露出材料的內(nèi)部截面。這種無應力、無損傷的制樣方式，為后續(xù)的微觀結(jié)構(gòu)觀察提供了高質(zhì)量的樣品，確保了分析結(jié)果的準確性和可靠性。通過截面拋光儀的處理...
2024
8-19

臺式掃描電子顯微鏡成為了科研人員的得力助手
在探索微觀世界的無盡旅程中，臺式掃描電子顯微鏡以其成像能力成為了科研人員的得力助手。這種設備雖小巧便攜，卻擁有與傳統(tǒng)大型掃描電鏡相媲美的性能，讓納米級別的物質(zhì)結(jié)構(gòu)分析變得觸手可及。臺式掃描電子顯微鏡的核心在于其創(chuàng)新的設計理念。它摒棄了龐大而復雜的框架，采用了緊湊輕巧的結(jié)構(gòu)布局，不僅節(jié)約了實驗室寶貴的空間資源，更降低了對環(huán)境條件的苛刻要求。這意味著研究者不必在專門的實驗室內(nèi)即可進行高分辨率的樣品觀察，極大地提高了工作效率與研究便捷性。在性能方面，臺式掃描電子顯微鏡并不因其體積的...
2024
7-24

微觀世界的探索者：掃描電子顯微鏡的奇幻之旅
在浩瀚的科學探索征途中，有這樣一位精密的“zhen探”，它以其非凡的視力，穿梭于肉眼無法觸及的微觀宇宙，揭開了一個又一個自然界的秘密——它，就是掃描電子顯微鏡（ScanningElectronMicroscope，簡稱SEM）。這是一場跨越尺度的奇幻之旅，讓我們一同走進這場微觀世界的壯麗探險。納米世界的門戶掃描電子顯微鏡，作為現(xiàn)代材料科學與生物學研究重要的工具，仿佛是通往納米世界的神秘門戶。不同于傳統(tǒng)光學顯微鏡受限于光的波長，SEM利用聚焦的高能電子束作為“光源”，這些電子在...

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技術(shù)文章

ROHS金屬成分分析儀來襲，一鍵快速檢測，讓環(huán)保合規(guī)更輕松！

ROHS指令作為歐盟針對電子產(chǎn)品中有害物質(zhì)限制的重要法規(guī)，對于全球電子產(chǎn)品制造商來說，都是必須嚴格遵守的標準。然而，如何確保產(chǎn)品中的金屬成分符合ROHS要求，卻一直是許多企業(yè)面臨的難題。如今，隨著ROHS金屬成分分析儀的問世，這一問題得到了有效的解決。這款分析儀以其一鍵快速檢測的功能，極大地簡化了金屬成分的檢測過程。在過去，企業(yè)可能需要將樣品送至專業(yè)的檢測機構(gòu)，等待漫長的時間才能得到檢測結(jié)果。而現(xiàn)在，只需將樣品放入分析儀中，輕輕一點，即可在短時間內(nèi)獲得準確的金屬成分數(shù)據(jù)。這種...

2025-3-10
揭秘電子掃描電鏡：工作原理、成像技術(shù)及應用領域

電子掃描電鏡（SEM），全稱掃描電子顯微鏡，是一種先進的微觀分析工具。其工作原理基于電子束與樣品表面的相互作用。當高能電子從電子槍發(fā)射，經(jīng)過聚焦后形成細小的電子束，該電子束在樣品表面按順序逐行掃描。在掃描過程中，電子束與樣品相互作用，激發(fā)出二次電子、背散射電子等信號。這些信號被相應的探測器收集，并轉(zhuǎn)換成電信號，最終經(jīng)過處理后形成高分辨率的圖像。SEM的成像技術(shù)主要依賴于二次電子和背散射電子。二次電子主要用于顯示樣品的表面形貌，成像效果具有三維立體感，能夠清晰呈現(xiàn)樣品的微小結(jié)構(gòu)...

2025-3-4
日本電子掃描電鏡的樣品制備技巧與注意事項

日本電子掃描電鏡作為高精度科研儀器，對樣品制備的要求高。以下是樣品制備的技巧與注意事項：技巧方面：選擇合適的固定方法：根據(jù)樣品的性質(zhì)和形態(tài)，選擇合適的固定方法，如導電膠帶粘貼、機械固定等，確保樣品在觀察過程中不會移動或變形。注意導電處理：對于不導電或?qū)щ娦圆畹臉悠?，要進行導電處理，如噴鍍導電膜，以提高樣品的導電性，避免荷電效應影響圖像質(zhì)量。保持樣品干燥：樣品需干燥無水、無易揮發(fā)溶劑，否則在真空環(huán)境中揮發(fā)出來的水蒸氣或溶劑會引起燈絲故障，影響儀器性能。注意事項：避免污染：樣品在...

2025-2-25
SEM掃描電鏡：原理、操作與樣品制備全攻略

SEM（掃描電鏡）是一種利用聚焦電子束在試樣表面逐點掃描成像的技術(shù)，其工作原理類似于閉路電視系統(tǒng)。電子束由三極電子槍發(fā)射，經(jīng)過加速電壓和多個電子透鏡聚焦后，按順序逐行掃描樣品表面，激發(fā)樣品產(chǎn)生二次電子、背散射電子等物理信號。這些信號被收集器接收并放大后，送到顯像管上形成與樣品表面特征相對應的畫面。在操作SEM時，首先需要確保設備及其附屬設備（如真空系統(tǒng)、冷卻系統(tǒng)）處于正常工作狀態(tài)，并進行預熱。然后，將準備好的樣品放置在樣品臺上，關(guān)閉真空腔并啟動真空泵進行抽真空。接下來，根據(jù)樣...

2025-1-17
電子顯微鏡在半導體工業(yè)中的應用與挑戰(zhàn)

電子顯微鏡作為半導體工業(yè)中的工具，發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。其高分辨率成像能力使得研究人員能夠深入到納米級別，精確檢測和分析半導體材料中的各種微觀結(jié)構(gòu)和缺陷。在半導體制造過程中，電子顯微鏡被廣泛應用于質(zhì)量檢測、結(jié)構(gòu)分析、失效分析和能譜分析等環(huán)節(jié)。通過電子顯微鏡，研究人員可以觀察到半導體芯片和封裝材料的內(nèi)部結(jié)構(gòu)，檢測出其中的缺陷、裂紋、氣泡等微觀結(jié)構(gòu)問題，確保產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。同時，電子顯微鏡還可以對半導體材料進行元素分析，確定材料中的元素含量和化學狀態(tài)，為材料研發(fā)和工藝控制提供...

2024-12-2
TEM斷層掃描系統(tǒng)為材料的性能提升與失效分析提供了寶貴的依據(jù)

TEM斷層掃描系統(tǒng)是結(jié)合了透射電子顯微鏡的高分辨率成像能力與斷層掃描技術(shù)的三維重構(gòu)能力。這一組合使得科學家們能夠以精度，對微小樣品進行逐層掃描，進而構(gòu)建出其在三維空間中的完整結(jié)構(gòu)。這一技術(shù)的出現(xiàn)，無疑為材料科學、生物學、醫(yī)學等多個領域的研究開辟了新的道路。在材料科學領域，TEM斷層掃描系統(tǒng)為納米材料的研發(fā)提供了強有力的支持。通過精確測量納米顆粒的形狀、尺寸以及分布，科學家們能夠更深入地理解材料的性能與結(jié)構(gòu)之間的關(guān)系，從而指導新材料的合成與優(yōu)化。此外，該技術(shù)還能揭示材料在微觀尺...

2024-11-15
探索微觀世界：SEM掃描電鏡在材料科學中的應用

SEM掃描電鏡，即掃描電子顯微鏡，作為一種強大的微觀分析工具，在材料科學領域具有廣泛的應用。其高分辨率、強景深和能譜分析功能，使其成為研究材料微觀結(jié)構(gòu)和性能的工具。在材料科學研究中，SEM掃描電鏡可用于觀察材料的表面形貌、晶體結(jié)構(gòu)、晶粒大小和形狀等。通過SEM的高分辨率圖像，研究人員能夠清晰地看到材料表面的微小結(jié)構(gòu)，如紋理、缺陷和裂紋等，這對于理解材料的力學性能和化學性能至關(guān)重要。此外，SEM掃描電鏡還可以進行能譜分析，幫助識別材料的化學成分和分布情況。這對于研究材料的成分、...

2024-11-7
ROHS金屬成分分析儀在電子產(chǎn)品質(zhì)量控制中的關(guān)鍵角色

在當今科技日新月異的時代，電子產(chǎn)品已成為我們?nèi)粘Ｉ钪械囊徊糠?。然而，隨著電子產(chǎn)品使用的普及，其安全性和環(huán)保性也日益受到關(guān)注。ROHS（限制使用某些有害物質(zhì)）指令的出臺，正是為了規(guī)范電子產(chǎn)品中有害物質(zhì)的含量，確保消費者的健康和安全。在這一背景下，ROHS金屬成分分析儀在電子產(chǎn)品質(zhì)量控制中扮演著至關(guān)重要的角色。ROHS金屬成分分析儀是一種專門用于檢測電子產(chǎn)品中金屬成分及其有害物質(zhì)含量的高精度儀器。它能夠快速、準確地分析出電子產(chǎn)品中鉛、汞、鎘、六價鉻、多溴聯(lián)苯和多溴二苯醚等有害物...

2024-10-21

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